Технология изготовления интегральных микросхем (ТИИМС)
- Для комментирования войдите или зарегистрируйтесь
Выполним под заказ для микроэлектронщиков БГУИР ТИИМС курсовые и контрольные работы.
БАЗОВЫЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ
Методические указания и контрольные задания по дисциплине «Маршрутная технология интегральных
и больших гибридных интегральных схем, датчики и сенсорные устройства» (раздел «Базовые технологические процессы интегральных схем) для студентов специальности I-42 01 02 «Микро- и наноэлектроника, технологии и системы» заочной и дистанционной формы обучения
Минск 2007
Составитель: Ю. А. Родионов
6. КОНТРОЛЬНЫЕ ЗАДАНИЯ
Каждый студент выполняет контрольное задание состоящее описания одного технологического процесса, либо приема и и решения двух обратных технологических задач:
- По определению технологических режимов получения легированной методом термодиффузии пленки заданных параметров;
- По определению технологических режимов создания легированной методом ионной имплантации пленки заданных параметров.
При этом задается:
1. тип подложки, например КЭФ – 4,5; КДБ – 40; КЭС – 0,1 и т.д.
2. требуемая толщина пленки например 0,1 мкм; 0,3 мкм; 0,18 мкм и т.д. 3. поверхностное сопротивление пленки, например 10 Ом/кв; 40 Ом/кв и т.д.
По этим исходным данным требуется определить (рассчитать) технологический режим (температуру, длительность процесса, дозу облучения и т.д.)
Такие задачи являются стандартными для специалиста в области технологии кремниевых ИС и постоянно решаются линейными технологами и разработчиками в повседневной практике. Для облегчения решения таких учебных задач для студентов приводятся типовые примеры решения реальных инженерных задач и примеры оформления отчетов по этим задачам ([1] ЭУМК по дисциплине «Базовые технологические процессы для студентов специальности I - 4101 02.)
Каждый студент выполняет вариант контрольного задания, номер которого соответствует порядковому номеру фамилии студента в зачетной ведомости.
1. Описать технологический процесс
- Механическая резка слитка на пластины и шлифовка пластин
- Химико-механическая полировка пластин
- Обезжиривание поверхности пластин
- Полирующее химическое травление пластин
- Отмывка пластин после химобработок
- Плазмохимическое травление
- Высокотемпературное окисление кремния в сухом кислороде
- Высокотемпературное окисление кремния в цикле сухой- влажный- сухой кислород
- Пирогенное окисление кремния
- Механизмы термодиффузии в твердом теле
- Основные законы термодиффузии в твердом теле
- Основные технологические приемы проведения термодиффузии
- Технологический контроль диффузионного слоя
- Основные положения теории ионного легирования
- Эффект каналирования при ионном легировании
- Структура и принцип работы установки ионного легирования
- Технологический контроль имплантированных слоев
- Фотолитография на микрозазоре
- Проекционная фотолитография в глубоком ультрафиолете
- Электронно-лучевая литография
- Рентгеновская литография
- Магнетронное распыление металлов
- Электронно-лучевое распыление металлов
- Ионно-лучевое распыление металлов
- Многослойная металлизация
- Электромиграция в тонких пленках металлизации
2. Решить обратную задачу по термодиффузии
Номер варианта |
Тип подложки |
Внедряемая примесь |
Толщина диф. слоя |
Поверхностное сопротивление ОМ/кв |
Процесс |
1 |
КЭФ-4,5 |
В |
0,1 |
40 |
2 стадии |
2 |
КЭФ-4,5 |
В |
0,2 |
50 |
2 стадии |
3 |
КЭФ-10 |
В |
0,3 |
60 |
2 стадии |
4 |
КЭФ-10 |
В |
0,11 |
35 |
2 стадии |
5 |
КЭФ-20 |
В |
0,12 |
48 |
2 стадии |
6 |
КЭФ-20 |
В |
0,13 |
50 |
2 стадии |
7 |
КЭФ-40 |
В |
0,14 |
41 |
2 стадии |
8 |
КЭФ-40 |
В |
0,2 |
60 |
2 стадии |
9 |
КДБ-10 |
Р |
0,1 |
40 |
2 стадии |
10 |
КДБ-10 |
Р |
0,18 |
41 |
2 стадии |
11 |
КДБ-10 |
Р |
0,15 |
38 |
2 стадии |
12 |
КДБ-20 |
Р |
0,1 |
52 |
2 стадии |
13 |
КДБ-20 |
As |
0,2 |
45 |
2 стадии |
14 |
КДБ-20 |
As |
0,15 |
40 |
2 стадии |
15 |
КДБ-40 |
As |
0,25 |
38 |
2 стадии |
16 |
КДБ-40 |
As |
0,11 |
51 |
2 стадии |
17 |
КДБ-40 |
As |
0,15 |
44 |
2 стадии |
18 |
КЭС-01 |
B |
0,1 |
40 |
2 стадии |
19 |
КЭС-01 |
B |
0,2 |
35 |
2 стадии |
20 |
КЭС-01 |
B |
0,15 |
40 |
2 стадии |
3. Решить обратную задачу по ионному легированию
Номер варианта |
Тип подложки |
Примесь |
Глубина имплантации |
Поверхностное сопротивление ОМ/кв |
1 |
КЭФ-4,5 |
В |
0,1 |
38 |
2 |
КЭФ-4,5 |
В |
0,11 |
39 |
3 |
КЭФ-10 |
В |
0,12 |
40 |
4 |
КЭФ-10 |
В |
0,13 |
41 |
5 |
КЭФ-20 |
В |
0,14 |
42 |
6 |
КЭФ-20 |
В |
0,15 |
43 |
7 |
КДБ-10 |
P |
0,1 |
44 |
8 |
КДБ-10 |
Р |
0,12 |
45 |
9 |
КДБ-10 |
AS |
0,11 |
38 |
10 |
КДБ-40 |
AS |
0,13 |
40 |
11 |
КДБ-40 |
AS |
0,14 |
41 |
12 |
КДБ-40 |
Р |
0,15 |
38 |
13 |
КДБ-40 |
P |
0,1 |
39 |
14 |
КДБ-40 |
P |
0,11 |
40 |
15 |
КДБ-20 |
P |
0,15 |
42 |
16 |
КДБ-20 |
P |
0,14 |
38 |
17 |
КДБ-20 |
P |
0,12 |
40 |
18 |
КЭС-0,1 |
В |
0,1 |
40 |
19 |
КЭС-0,1 |
В |
0,11 |
41 |
20 |
КЭС-0,1 |
В |
0,12 |
42 |