Технология изготовления интегральных микросхем (ТИИМС)

Нет ответов
admin
Аватар пользователя admin
Offline
Создано: 20/08/2012

Выполним под заказ для микроэлектронщиков БГУИР ТИИМС курсовые и контрольные работы.

БАЗОВЫЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Методические указания и  контрольные задания по дисциплине «Маршрутная технология интегральных

и больших гибридных интегральных схем, датчики и сенсорные устройства» (раздел «Базовые  технологические процессы интегральных схем) для студентов специальности I-42 01 02 «Микро- и наноэлектроника, технологии и системы» заочной и дистанционной формы обучения

Минск 2007

                                        Составитель:                                      Ю. А. Родионов

 

6. КОНТРОЛЬНЫЕ ЗАДАНИЯ

 

     Каждый студент выполняет контрольное задание состоящее описания одного технологического процесса, либо приема и и решения двух обратных технологических задач:

  1. По определению технологических режимов получения легированной методом термодиффузии пленки заданных параметров;
  2. По определению технологических режимов создания легированной методом ионной имплантации пленки заданных параметров.

 При этом задается:

1. тип подложки, например КЭФ – 4,5; КДБ – 40; КЭС – 0,1 и т.д.        

2. требуемая толщина пленки например 0,1 мкм; 0,3 мкм; 0,18 мкм и т.д.    3. поверхностное сопротивление пленки, например 10 Ом/кв; 40 Ом/кв и т.д.

          По этим исходным данным требуется определить (рассчитать) технологический режим (температуру, длительность процесса, дозу облучения и т.д.)

         Такие задачи являются стандартными для специалиста в области технологии кремниевых ИС и постоянно решаются линейными технологами и разработчиками в повседневной практике. Для облегчения решения таких учебных задач для студентов приводятся типовые примеры решения реальных инженерных задач и примеры оформления отчетов по этим задачам ([1] ЭУМК по дисциплине «Базовые технологические процессы для студентов специальности I - 4101 02.)

         Каждый студент выполняет вариант контрольного задания, номер которого соответствует порядковому номеру фамилии студента в зачетной ведомости.

 

                        1. Описать технологический процесс

 

  1. Механическая резка слитка на пластины и шлифовка пластин
  2. Химико-механическая полировка пластин
  3. Обезжиривание поверхности пластин
  4. Полирующее химическое травление пластин
  5. Отмывка пластин после химобработок
  6. Плазмохимическое травление
  7. Высокотемпературное окисление кремния в сухом кислороде
  8. Высокотемпературное окисление кремния в цикле сухой- влажный- сухой кислород
  9. Пирогенное окисление кремния
  10.  Механизмы термодиффузии в твердом теле
  11.  Основные законы термодиффузии в твердом теле
  12.  Основные технологические приемы проведения термодиффузии
  13.  Технологический контроль диффузионного слоя
  14.  Основные положения теории ионного легирования
  15.  Эффект каналирования при ионном легировании
  16.  Структура и принцип работы установки ионного легирования
  17.  Технологический контроль имплантированных слоев
  18.  Фотолитография на микрозазоре
  19.  Проекционная фотолитография в глубоком ультрафиолете
  20.  Электронно-лучевая литография
  21.  Рентгеновская литография
  22.  Магнетронное распыление металлов
  23. Электронно-лучевое распыление металлов
  24.  Ионно-лучевое распыление металлов
  25.  Многослойная металлизация
  26.  Электромиграция в тонких пленках металлизации

 

 

2. Решить  обратную задачу по термодиффузии

 

Номер варианта

Тип подложки

Внедряемая примесь

Толщина диф. слоя

Поверхностное сопротивление ОМ/кв

Процесс

1

КЭФ-4,5

В

0,1

40

2 стадии

2

КЭФ-4,5

В

0,2

50

2 стадии

3

КЭФ-10

В

0,3

60

2 стадии

4

КЭФ-10

В

0,11

35

2 стадии

5

КЭФ-20

В

0,12

48

2 стадии

6

КЭФ-20

В

0,13

50

2 стадии

7

КЭФ-40

В

0,14

41

2 стадии

8

КЭФ-40

В

0,2

60

2 стадии

9

КДБ-10

Р

0,1

40

2 стадии

10

КДБ-10

Р

0,18

41

2 стадии

11

КДБ-10

Р

0,15

38

2 стадии

12

КДБ-20

Р

0,1

52

2 стадии

13

КДБ-20

As

0,2

45

2 стадии

14

КДБ-20

As

0,15

40

2 стадии

15

КДБ-40

As

0,25

38

2 стадии

16

КДБ-40

As

0,11

51

2 стадии

17

КДБ-40

As

0,15

44

 2 стадии

18

КЭС-01

B

0,1

40

2 стадии

19

КЭС-01

         B

0,2

35

2 стадии

20

КЭС-01

B

0,15

40

2 стадии

 

 

 

 

3. Решить обратную задачу по ионному легированию

 

Номер варианта

Тип подложки

Примесь

Глубина имплантации

Поверхностное сопротивление ОМ/кв

1

КЭФ-4,5

В

0,1

38

2

КЭФ-4,5

В

0,11

39

3

КЭФ-10

В

0,12

40

4

КЭФ-10

В

0,13

41

5

КЭФ-20

В

0,14

42

6

КЭФ-20

В

0,15

43

7

КДБ-10

P

0,1

44

8

КДБ-10

Р

0,12

45

9

КДБ-10

AS

0,11

38

10

КДБ-40

AS

0,13

40

11

КДБ-40

AS

0,14

41

12

КДБ-40

Р

0,15

38

13

КДБ-40

P

0,1

39

14

КДБ-40

P

0,11

40

15

КДБ-20

P

0,15

42

16

КДБ-20

P

0,14

38

17

КДБ-20

P

0,12

40

18

КЭС-0,1

В

0,1

40

19

КЭС-0,1

В

0,11

41

20

КЭС-0,1

В

0,12

42